薄膜测厚仪 返回列表页

薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。

塑料薄膜厚度测量用什么仪器？

塑料薄膜测厚仪THK-01适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。

薄膜测厚仪THK-01主要参数

通用名称：测厚仪

测量范围：0～2mm（标配）；0～6mm、0～12mm（选配）

分辨率：0.1μm

测试速度：1～25次/min

测量头平行度：±2μm（机械调整，量块校验）

重复性：0.3μm

测量压力：17.5±1kPa(薄膜）、50±1kPa(纸张)

接触面积：50mm²(薄膜)； 200mm² (纸张)；

薄膜、纸张任选一种，非标可定制

电源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重：15Kg

测试原理

测厚仪THK-01采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。

参照标准

GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》

测厚仪生产厂家